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全自动光学检测-亿昇精密选择焊-aoi全自动光学检测仪 ：

AOI在生产中，全自动光学检测，测试系统应当根据生产批量的要 求建立并优化。实际运作中无数次地证明，仅这样做是远 远不够的。如果在两周的生产时间内要测试一个新批次的 PCB，有可能会发生这样的情况：ELKO的颜色突然由黑色 变为了黄色，全自动光学检测系统，或者晶体管的引脚变短了、是弯的；或是电阻的颜色由黄色变成了蓝色的，等等。

AOI 检测系统的软件具有统计分析功能， 为工艺技术人员提供 SPC ( Statistical Process Control ) 资料。AOI 检测系统监控工艺流程质量， 与 SPC 工艺管理技术的结合， 及时提供反馈信息， 从而不断地优化生产流程中的各个参数， 使 SMT 生产工艺更加完善，全自动光学检测机， PCB装配的成品率进而得到显著提高。随着现代制造业规模的扩大， 生产的受控性越来越重要， 对 SPC 资料的需求也不断增长。

AOI为客户提供专业、及时、的技术服务。凭着的设备性能、完善的售后服务，在智能制造、工业4.0的大潮中，明锐人将秉持“诚信为本、服务客户、精益求精”的核心价值观，以对“创新和品质”的持续探求，成为业界的视觉检查方案供应商，用智慧与心血为世界重新定义“视觉与智能”的内涵。

波长光源也就是一般现代工业AOI检测设备中的红绿蓝LED光源。特殊波长光源一般是指红外或紫外波长光源，一些特殊材料在可见光范围内吸收差别不大，灰阶变化不明显时可以考虑采用特殊波长光源，比如说利用紫外光能量高可以激发荧光材料的原理，检测具有荧光发光特性物质微残留时紫外光源就是一种比较有效的手段，因材料成分与红外光谱有对应关系的原理，红外光源对不具有发光性质的有机化合物残留缺陷检出就有很大的作用，甚至可以实现成分分析。特殊光源中，利用偏振光与物体相互作用后偏振态的变化，利用光学干涉原理的白光干涉（white light interferometry）在特定缺陷检测中的得到了应用，例如通过相干光的干涉图案计算出对应的相位差和光程差，可以测量出被测物体与参考物体之间的差异，且分辨率与精度为可以达到亚波长，测量三维物体形貌与高度也正成为AOI检测的新需求。

AOI为客户提供专业、及时、的技术服务。凭着的设备性能、完善的售后服务，在智能制造、工业4.0的大潮中，明锐人将秉持“诚信为本、服务客户、精益求精”的核心价值观，以对“创新和品质”的持续探求，成为业界的视觉检查方案供应商，全自动光学检测仪，用智慧与心血为世界重新定义“视觉与智能”的内涵。

AOI检测技术应运而生的背景是电子元件集成度与精细化程度高，检测速度与效率更高，检测零缺陷的发展需求。在人工智能技术与大数据发展进步的今天，AOI检测不仅仅是一部检测设备，对大量不良结果进行分类和统计，可以发现不良发生的原因，在工艺改善和生产良率提升中也正逐步发挥着更重要的作用。可以预期未来AOI检测技术将在半导体与电子电路检测中将会发挥越来越重要的作用。