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优良的AOI程序应该能够应付这些这影响。如果这些个别点的变化可以保持不变，那么就能够相当大地简化AOI编程。经研究得到的结论是，由于无铅产生的影响，图形对照系统无法得到适合的检查结果，这是因为合格的样品变化太大。更加可行的方法是，取出确定每道工艺和元件变化的特性。这些变化可以分成不同的等级。如果在现在使用的工艺中，出现了一个新的变化，aoi自动光学检测设备，就要增加一个级别，来保证检查的性。所有认识到的和已知的缺陷都储存起来，aoi自动光学检测，他们的类型和图片可以用于AOI系统和全球数据库里的检查程序。我们没有必要把一块不同缺陷的电路板保存起来用于详细的检查。

AOI在回熔温度较高以及使用侵蚀性更强的助焊剂时，aoi自动光学检测系统，也会导致与助焊剂直接接触的较薄的元件受到侵蚀，元件顶部不能够反射光线。流动性的改变和侵蚀性助焊剂，对R0402型元件的影响比C0402型元件大，离线aoi自动光学检测仪，因为R0402型元件更轻也更薄。在使用R0603元件时，这也不常见。

AOI技术领域非常广泛，广义的AOI设备为结合光学传感系统、讯号处理系统及分析软件，应用层面可包括宇宙探测、航空、遥测、生物医学、工业生产品质检测、指纹比对、机器人控制、多媒体技术。

AOI回流焊前检查是在元件贴放在板上锡膏内之后和PCB送入回流炉之前完成的。这是一个典型地放置检查机器的位置，因为这里可发现来自锡膏印刷以及机器贴放的大多数缺陷。在这个位置产生的定量的过程控制信息，提供高速片机和密间距元件贴装设备校准的信息。这个信息可用来修改元件贴放或表明贴片机需要校准。这个位置的检查满足过程跟踪的目标。