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全自动光学检测-全自动光学检测仪-亿昇精密选择性波峰焊 ：

AOI软件中有一个综合性的验证功能，它能减少检查的误报，保证检测程序无缺陷。它可以检查储存起来的有缺陷的样品，例如，修理站存放的样品，以及印刷了焊膏的空白印刷电路板。在优化阶段，在这方面花时间的原因是为了不让任何缺陷溜过去。所有已知的缺陷都必须检查，同时要把允许出现的误报数量做到。在针对减少误报而对任何程序进行调整时，要检查一下，看看以前检查出来的真正缺陷，是否得到维修站的证实。通过综合的核实，保证检查程序的质量，用于专门的制造和核查，同时对误报进行。

AOI在回熔温度较高以及使用侵蚀性更强的助焊剂时，也会导致与助焊剂直接接触的较薄的元件受到侵蚀，全自动光学检测，元件顶部不能够反射光线。流动性的改变和侵蚀性助焊剂，对R0402型元件的影响比C0402型元件大，aoi全自动光学检测仪，因为R0402型元件更轻也更薄。在使用R0603元件时，这也不常见。

AOI技术领域非常广泛，广义的AOI设备为结合光学传感系统、讯号处理系统及分析软件，应用层面可包括宇宙探测、航空、遥测、生物医学、工业生产品质检测、指纹比对、机器人控制、多媒体技术。

AOI产品广泛应用于智能终端、可穿戴设备、电信网络、航空航天、汽车电子等各个领域，为客户提供高检出、低误报、简单易用、功能强大的视觉检查系统。

近年来软件方面， 使用了很多电路板图像的检测算法， 这些算法大致可分为三大类: 有参考比较算法、无参考校验法以及混合型算法。有参考比较算法分为两大类， 图像对比法和模型对比法。这类方法算法简单， 容易实现， 但是它不容易检测线宽、线距违例等瑕疵。无参考校验法不需要任何参考图象， 它依据预先定义的 PCB 的设计规则来判断待检 PCB 图象是否有瑕疵， 如果它不符合设计规则， 就认为有瑕疵， 因此也称为设计规则校验法。这类方法虽然在榆测线宽、线距违例这类瑕疵时能够收到很好的效果， 但是其算法复杂，全自动光学检测设备， 运算量很大， 而且易漏柃线、焊盘丢失等大瑕疵。混合型方法是将有参考比较算法与无参考校验法混合使用， 在一定程度上克服了前两类方法的缺点，从而发挥它们各自的优点。比如， 模板匹配法与数学形态学方法结合使用， 或者连接表方法与数学形态学方法结合使用等。但当前这种方法还不足很成熟， 其算法复杂， 不能满足实时检测的要求， 且自适应性不够， 系统扩展能力差。当前 AOI 检测系统图像处理基本上采用的是参考算法， 国外进口品牌大多使用图像匹配、法则判别登多种组合手段。